應用領域
Application area
聯系我們
contact us
上海測宇科學儀器科技有限公司
地 址：上海市嘉定區真南路4929古漪商務大廈603室
聯系人：孟先生 13585785050
總 機：021-65142150，65029510
傳 真：021-65029530
郵 編：200092
E-mail：738304336@qq.com mengjiaming@rigaku.com.cn
節假日請撥打： 13585785050
您當前位置：網站首頁 > 應用領域
織構和極圖
在材料科學中，織構表述樣品晶體取向分布。 樣品這些取向是隨機的被稱為隨機織構。如果晶體取向不隨機，而是有些擇優取向，樣品則有弱，強和中等織構。織構程度取決于晶體擇優取向的百分比。織構存在于幾乎全部工程材料中，且對材料性能的影響很大。織構經常用"極圖"來表示。
系統
-
高功率 (18 kW) θ/θ XRD: TTRAX III
-
微區XRD: RAPID II
-
多目的高性能XRD: Ultima IV
-
全自動XRD: SmartLab?
在材料科學中，織構表述樣品晶體取向分布。 樣品這些取向是隨機的被稱為隨機織構。如果晶體取向不隨機，而是有些擇優取向，樣品則有弱，強和中等織構。織構程度取決于晶體擇優取向的百分比。織構存在于幾乎全部工程材料中，且對材料性能的影響很大。織構經常用"極圖"來表示。
系統
- 高功率 (18 kW) θ/θ XRD: TTRAX III
- 微區XRD: RAPID II
- 多目的高性能XRD: Ultima IV
- 全自動XRD: SmartLab?
