應用領域
Application area
聯系我們
contact us
上海測宇科學儀器科技有限公司
地 址：上海市嘉定區真南路4929古漪商務大廈603室
聯系人：孟先生 13585785050
總 機：021-65142150，65029510
傳 真：021-65029530
郵 編：200092
E-mail：738304336@qq.com mengjiaming@rigaku.com.cn
節假日請撥打： 13585785050
您當前位置：網站首頁 > 應用領域
半導體計量
理學是設計和制造以X射線為基礎測量工具的前驅者和領導者之一。在半導體領域有將近30年的市場先導作用,我們的產品家族從工廠生產控制到產品研發用于薄膜和材料的表征。
系統
-
實驗室高分辨XRD: SmartLab®, Ultima IV
-
高功率 θ/θ測角儀系統: TTRAX III
理學是設計和制造以X射線為基礎測量工具的前驅者和領導者之一。在半導體領域有將近30年的市場先導作用,我們的產品家族從工廠生產控制到產品研發用于薄膜和材料的表征。
系統
- 實驗室高分辨XRD: SmartLab®, Ultima IV
- 高功率 θ/θ測角儀系統: TTRAX III
