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顆粒尺寸及形狀

  納米粒子和納米晶體材料的粒徑大小,形狀和結構,包括表面積,溶解度,反射率等影響其物理和化學特性。晶粒尺寸是通過測量晶胞內特定平面的衍射圖樣中一定寬度的X射線衍射峰來確定的。晶體尺寸與FWHM負相關:峰越窄,晶體尺寸越大。由于晶域的周期性, X射線強度越強,峰越尖銳。如果晶體無缺陷且呈周期性,X射線產生衍射以同樣角度穿過多層樣品。如果晶體隨機排列,或周期性較差,其結果是一個較寬的峰。

系統

  • 高功率 (18 kW) θ/θ XRD: TTRAX III
  • 多目的高性能XRD: Ultima IV
  • 全自動XRD: SmartLab?